致茂射頻 LCR表MODEL 11090-030產(chǎn)品簡介

Chroma 11090-030 射頻LCR表為一提供貼片電感及射頻濾波器等被動組件高頻量測評估解決方案。其高達(dá)300MHz的測試頻率，對于POL或一般小型DC-DC Converter之電感組件，不僅滿足日益增高的標(biāo)稱頻率測試外，更可滿足需要于超高頻檢測才能測出之質(zhì)量異常。此外，同樣能滿足如EMI-Filter、Ferrite Bead等慣用的100MHz阻抗測試需求。

涵蓋量測項(xiàng)目 Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp,Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q 等各種被動組件測試所需的主、副參數(shù)。100kHz~300MHz的寬廣測試頻率范圍，采用RF式電流電壓轉(zhuǎn)換技術(shù)，其優(yōu)于網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)的阻抗量測范圍，高于自動平衡橋技術(shù)的頻率量測范圍，適合研發(fā)與品保單位分析被動組件于不同頻率下的特性。此外，搭載超低噪聲、低諧波失真訊號產(chǎn)生模塊，賦予量測訊號高質(zhì)量純凈度，進(jìn)而提升阻抗測試的準(zhǔn)確性。

0.8%的基本量測準(zhǔn)確度使量測結(jié)果呈現(xiàn)高穩(wěn)定性與高可靠性，0.5ms的快速量測可搭配自動化機(jī)臺，能有效率地大幅提高產(chǎn)量。符合多種小型的SMD測試治具，采用改進(jìn)的下壓方式，可旋轉(zhuǎn)90度并僅需三個步驟來更換待測物 (實(shí)際測試約40秒)，能替使用者減少更換不同尺寸待測物的時(shí)間、加快測試速度、免除反復(fù)拆裝限位墊片，進(jìn)而減少損耗與后續(xù)客戶的維護(hù)費(fèi)用。

Chroma 11090-030 射頻LCR表藉由全面性設(shè)計(jì)的規(guī)格考慮與重點(diǎn)式的功能強(qiáng)化，不論是在產(chǎn)品特性研發(fā)與分析、自動化產(chǎn)線快速測試或是各式零件進(jìn)出料管理，皆為完善的測試解決方案，為您提供市場上少數(shù)既有解決方案之外全新的選擇。

重點(diǎn)規(guī)格

■ 測試參數(shù)： Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp,Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q

■ 測試頻率：100kHz~300MHz

■ 量測范圍：100mΩ~5kΩ

■ 量測速度：0.5/0.9/2.1/3.7 (ms)

■ 基本準(zhǔn)確度： ± 0.8% % (typical ± 0.45%)

■ 測試輸出能量：-40~1 (dBm)

■ 量測模式：單點(diǎn) (Point) /多點(diǎn) ( List)

■ 測試訊號 (Vm,lm) 監(jiān)測功能

■ 比較與分類(13bins)選別功能

■ 接觸檢查 (Rdc 0.1Ω~100Ω @ 1mA max)

■ 開短路校正與加載補(bǔ)償功能

■ 標(biāo)準(zhǔn)接口：Handler、RS-232C、GPIB、LAN、USB(A & B type)

特點(diǎn)

■ 寬的測試頻率 : 100kHz~300MHz

■ 快速的測試速度：0.5ms/point

■ 多樣性的功能

– 校正/補(bǔ)償狀態(tài)指引

– 提供磁性組件以Rdc 為接觸檢查

– 多參數(shù)比較與分類功能

– ~401 點(diǎn)多點(diǎn)測試與曲線繪圖功能

– 清晰與引導(dǎo)式操作

■ 操作快速的SMD測試治具(TW M621845/CN 216013502U)

致茂射頻 LCR表MODEL 11090-030應(yīng)用領(lǐng)域

■ SMD電感(壓模電感/積層電感/磁珠等)

■ EMI共模線圈

■ 其他被動組件