致新ZX38A-CV半導體C-V特性測試儀 致新ZX38A-CV半導體C-V特性測試儀:使用自動平衡電橋技術及四端對開爾文測試端、測量頻率范圍涵蓋20Hz~2MHz,最小分辨率1mHz,基本測量精度可達0.05%。本儀器還可以測試MOS管的輸入電容Ciss,輸入電阻Rg等參數(shù)。同時提供了內置±10VDC電壓源方便客戶測試3端管子。 
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2024-11-24 - 02
      
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